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上海儀電物光 顆粒圖像分析儀
將傳統的顯微測量方法與現代的圖像技術相結合，是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器，由光學顯微鏡、數字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。
該系統通過專用的數字攝像機將圖像傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行分析處理，具有直觀、形像、準確和測量范圍寬等特點。
1、圖像多種處理方法：影像增強、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調節、顆粒定位、自動分割等幾十種功能。
2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數的基本測量。
3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數，以線性或非線性統計方式繪出分布圖。
上海儀電物光 顆粒圖像分析儀
技術參數
儀器型號 | WKL-702 |
測量范圍 | 0.1～3000（微米） |
總放大倍數 | 8000倍 |
最大分辨率 | 0.1微米/像素 |
重復性 | 誤差≤±1％ |
自動分割速度 | ≤1秒 |
數字攝像機(CCD) | 500萬像素 |
數據儲存 | 電腦需另配（i5+8G內存+純固態硬盤或雙硬盤以上配置） |
通信接口 | USB |
操作系統 | Windows 98/XP/7/8/10/11系統均可 |
電源 | AC220V ±10％，50 Hz， 200 W |
儀器尺寸 | 270mm×410mm×440mm |
儀器凈重 | 15kg |
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